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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素有哪些?

更新時(shí)間:2021-06-25   點(diǎn)擊次數(shù):1060次
     涂層測(cè)厚儀采用無損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。在化工,電子,電力,金屬等行業(yè)中,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用,通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法,這樣便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念,我們稱之為“覆層”。
    影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素有哪些:
    1、基體金屬磁性質(zhì)
    磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
    基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
    2、基體金屬厚度
    每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,涂層測(cè)厚儀測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
    3、邊緣效應(yīng)
    涂層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
    4、 曲率
    試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
    5、試件的變形
    測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù)。
    6、表面粗糙度
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
    7、附著物質(zhì)
    涂層測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
    8、 測(cè)頭壓力
    測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
    9、測(cè)頭的取向
    測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
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